报告人：朱涛 研究员

        中国科学院物理研究所

邀请人：陈延学 教授

报告时间：10月29日（星期一）下午15:45

报告地点：知新楼C座1111房间

报告摘要：

中子和X光一样是研究各类薄膜材料结构特性的有力工具，中子反射是通过分析来自样品的反射中子研究物质的表面和界面结构。中国散裂中子源(CSNS)在一期就建造了一台以极化中子反射为主的多功能反射谱仪(MR)，已于2018年3月通过国家验收。众所周知，磁性薄膜研究中存在一系列与表面界面相关的物理效应，如铁磁层的层间交换耦合、铁磁/反铁磁交换偏置效应、磁各向异性、以及磁性氧化物异质结的界面磁性等。极化中子反射(PNR)是在一般中子反射谱仪的基础上增加了中子极化器和翻转器，可用于磁性薄膜的研究。本报告选择几个例子介绍PNR在自旋电子学中的应用。

报告人简介：

朱涛，中国科学院物理研究所，研究员，国科大兼职教授，博士生导师。长期从事磁性薄膜的研究，主要研究方向包括Fe-Al₂O₃颗粒膜，Al₂O₃磁隧道结，LSMO纳米颗粒，CoFeB基垂直磁化膜等。2004年起开始介入中国散裂中子源的建设，2007年起开始负责一期三台谱仪之一的多功能反射谱仪的设计和建造，开始极化中子反射技术的应用研究，目前负责该谱仪的开放运行。